扁平封裝集成電路測(cè)試夾具該系列夾具供扁平封裝的集成電路老化、測(cè)試、篩選作連結(jié)之用(間距1.27mm)。產(chǎn)品型號(hào)及規(guī)格; GLB-14J、16、GLB-18J