魏茂堅，徐紅兵（電子科技大學自動化工程學院，四川成都 610054） 摘 要：討論了通過時域反射計的瞬時反射和傳輸響應的測量來提取寬帶S參數的一種新的方法。所討論的有理函數方法，綜合運用了廣義束函數法，遞歸去卷積以及標準結構的方法來獲取系統的響應。與傳統的算法相比，減少了誤差。該模型與SPICE建立的模型兼容，并且能夠對模型的頻率與瞬時響應進行仿真。仿真結果表明了算法的有效性。 關鍵詞：時域反射計；S參數；有理函數；廣義束函數；遞歸去卷積 中圖分類號：TM934.7 文獻標識碼：A 文章編號：1672-4984（2007）01-0057-03 Extraction of S-parameter from TDR measurement WEI Mao-jian， XU Hong-bing （School of Automation Engineering，University of Electronc Science and Technology，Chengdu 610054，China） Abstract:This paper presented extraction of the brand band S-parameter response from transient reflection and transmission measurement.This method used the Generalized Pencil-of-Function method，recursive deconvolution and calibration structures to obtain the response using rational functions.These models are SPICE compatible and can be used to simulate the frequency or transient response. Key words:TDR；Scattering parameters；Rational function；GPOF；Recursive deconvolution
